Phobos Grunt – die Nachlese

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Nun ist der Untersuchungsbericht raus, genauer gesagt, schon seit fast zwei Monaten. Doch da er nur in russsich herauskam habe ich mal abgewartet was andere über ihn schreiben und wie sie ihn beurteilen, auch weil die Nomenklatur der Kürzel es fast unmöglich macht mit einer einfachen Übersetzung zu arbeiten. Zeit also den Fehlschlag zu analysieren. Der Bericht der Untersuchungskommission, der schon im Februar vorlag, führt als primäre Ursache den simultanen Reboot von zwei „Arbeitskanälen“ (Elektronikmodulen) des Bordcomputers aus. Verantwortlich für den Reboot waren aber Ausfälle von Elektronikkomponenten durch kosmische Strahlung, die wiederum nur möglich waren, weil nicht weltraumtaugliche Teile verwendet wurden. Es handelte sich im Detail um 512 K x 32 Bit SRAM-Chips des Typs WS512K32V20G2TM, die in beiden Platinen des Bordcomputers verbaut waren. Diese Chips sind nach  Steven McClure vom JPL, Schirmherr der Radiation Effects Group nicht strahlengehärtet. Es handelt sich um Chips mit höheren Grenzwerten gegenüber Temperatur und anderen Umgebungseinflüssen. Sie genügen der „Militärspezifikation“ für den Einsatz in Flugzeugen oder Lenkwaffen. Das bedeutet sie sind robuster als die herkömmlichen Exemplare, da sie auch bei sehr hohen und sehr tiefen Temperaturen funktionieren müssen. Sie sind auch etwas strahlentoleranter, da Flugzeuge in der Stratosphäre einer höheren Strahlenbelastung ausgesetzt sind. Sie sind allerdings nicht strahlengehärtet, also für den dauerhaften Einsatz im Weltraum vorgesehen. Der Einsatz wäre nach  Steven McClure noch tolerierbar für Kurzzeitmissionen von einigen Tagen Dauer, nicht jedoch für eine mehrjährige Marsmission. Continue reading „Phobos Grunt – die Nachlese“